Multilayer monochromators for EUV and X-ray optics and the interface characterization
Institution: | Université Pierre et Marie Curie – Paris VI |
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Department: | |
Year: | 2015 |
Keywords: | Monochromateurs multicouche; Optique des rayons X et extrême ultraviolet; Interfaces; Fluorescence X induite par ondes stationnaires; Spectroscopie de résonance magnétique nucléaire; Réflectivité des rayons X; Multilayer monochromators; Fluorescence by XSW; 541.3 |
Record ID: | 1146963 |
Full text PDF: | http://www.theses.fr/2015PA066062/document |
Dans cette thèse, nous avons étudié plusieurs combinaisons de matériaux et quelques méthodes d’ingénierie des interfaces : introduction de barrières de Zr dans les multicouches Co/Mg ; pulvérisation réactive des multicouches Co/Ti ; incorporation de B et C dans les multicouches Cr/Ti and remplacement de Mo par Mo2C dans le système Mo/B4C. Les propriétés des interfaces enterrées ont pu être étudiées en combinant XRR, XPS, TEM, etc. De plus, un modèle pour analyser les empilements a été développé en se basant sur la fluorescence X induite par ondes stationnaires. Pour les multicouches à base de Co, nous avons effectué des mesures RMN pour comprendre le comportement des atomes de cobalt dans les empilements. Ces méthodes se révèle des outils puissants pour analyser les multicouches sans dommages. In this thesis, we study several material combinations and some interface engineering methods...